10KPa低溫低氣壓試驗箱設(shè)備特點:
具有自動加水功能并且在試驗過程中水位過低時自動補水。
試驗過程自動運轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡便。
溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作確試驗溫度之設(shè)定、控制及顯示。
計時器：LED數(shù)字型計時器，當鍋內(nèi)溫度到達後才開始計時以確保試驗理想。
準的壓力/溫度表隨時顯示鍋內(nèi)壓力與相對溫度。
運轉(zhuǎn)時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到*佳蒸氣品質(zhì)。
一體成型矽膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。
試驗箱內(nèi)經(jīng)拋光處理經(jīng)久耐用美觀不沾污。

10KPa低溫低氣壓試驗箱設(shè)備是一種專門用于進行低溫低氣壓條件下的試驗的設(shè)備。它通常由如下組成部分構(gòu)成：

試驗箱：試驗箱是一個密封的容器，用于容納待測試的物品。它通常具有一定的隔熱性能，以保持低溫環(huán)境。同時，試驗箱也需要具備良好的密封性能，以確保試驗過程中不會發(fā)生氣體泄漏。

冷源系統(tǒng)：冷源系統(tǒng)用于提供低溫環(huán)境。它通常包括制冷機組、蒸發(fā)器、冷凝器等組件，通過循環(huán)制冷劑的方式將試驗箱內(nèi)部的溫度降低到所需的低溫水平。

氣壓控制系統(tǒng)：氣壓控制系統(tǒng)用于調(diào)節(jié)試驗箱內(nèi)部的氣壓。它通常包括真空泵、氣壓傳感器、氣閥等組件，通過控制氣壓的升降，實現(xiàn)低氣壓條件下的試驗要求。

控制系統(tǒng)：控制系統(tǒng)用于監(jiān)控和控制整個試驗過程。它通常包括溫度傳感器、壓力傳感器、液晶顯示屏、控制器等組件，通過對各個部件的監(jiān)測和控制，確保試驗箱設(shè)備能夠按照設(shè)定的參數(shù)進行工作。

10KPa低溫低氣壓試驗箱主要用于模擬低溫低氣壓環(huán)境下的條件，對物品的可靠性、耐受性等性能進行測試。它在航空航天、電子元器件、材料科學(xué)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。

設(shè)備滿足以下標準：

GB10592-89   高低溫箱技術(shù)條件

GB11158      高溫試驗箱技術(shù)條件；

GB10589      低溫試驗箱技術(shù)條件；

GB10592      高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T10586-2006   濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫

GB/T2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫

GB/T2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB/T2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

GB/T2423.22-2002  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)節(jié)試驗規(guī)程，試驗N：溫度變化試驗方法

GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則

GJB150.3A-2009 JUN用裝備試驗室環(huán)境試驗方法（高溫試驗）

GJB150.4A-2009JUN試驗室環(huán)境試驗方法 （低溫試驗）

GJB150.9A-2009JUN試驗室環(huán)境試驗方法 （濕熱試驗）

GB2423.1-89  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法

GB2423.2-89  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法